設備儀器
Product center

錫膏測厚儀
首頁 > 設備儀器

錫膏測厚儀
Sinic-Tek 思泰克
Sinic-Tek公司的錫膏測厚儀 具有可編程結構光柵技術(PSLM ;相位調制輪廓測量技術(PMP), 其同步結構光技術(D-Lighting)和RGB二維光源的完美配合 并且具有高解析度圖像處理系統,Z軸實時動態仿形,強大的過程分析(SPC)以及五分鐘編程和一鍵式操作。
- 資料說明
■






- 可編程結構光柵技術
- 同步結構光技術
- 相位調整輪廓測量技術
- 高解析度圖像處理系統
- 五分種編程和一鍵式操作
應用領域
■
CT(可選項)
用戶咨詢